PCB probe သည် လျှပ်စစ်စမ်းသပ်ခြင်းအတွက် contact medium တစ်ခုဖြစ်ပြီး အရေးကြီးသော အီလက်ထရွန်းနစ် အစိတ်အပိုင်းတစ်ခုဖြစ်ပြီး အီလက်ထရွန်းနစ် အစိတ်အပိုင်းများကို ချိတ်ဆက်ခြင်းနှင့် လျှပ်ကူးခြင်းအတွက် carrier တစ်ခုဖြစ်သည်။ PCB probe ကို PCBA ၏ data transmission နှင့် conductive contact ကို စမ်းသပ်ရန် ကျယ်ကျယ်ပြန့်ပြန့် အသုံးပြုကြသည်။ probe ၏ conductive transmission function ၏ data ကို ထုတ်ကုန်သည် ပုံမှန်ထိတွေ့မှုရှိမရှိနှင့် လည်ပတ်မှု data သည် ပုံမှန်ရှိမရှိ ဆုံးဖြတ်ရန် အသုံးပြုနိုင်သည်။
ယေဘုယျအားဖြင့် PCB ၏ probe တွင် သတ်မှတ်ချက်များစွာရှိပြီး အဓိကအားဖြင့် အပိုင်းသုံးပိုင်းပါဝင်သည်- ပထမ၊ ကြေးနီအလွိုင်းဖြင့် အဓိကပြုလုပ်ထားပြီး ရွှေဖြင့်ချထားသော အပ်ပြွန်။ ဒုတိယမှာ စပရိန်ဖြစ်ပြီး အဓိကအားဖြင့် စန္ဒယားသံမဏိဝါယာကြိုးနှင့် စပရိန်သံမဏိကို ရွှေဖြင့်ချထားသည်။ တတိယမှာ အပ်ဖြစ်ပြီး အဓိကအားဖြင့် tool steel (SK) နီကယ်ဖြင့်ချထားသော သို့မဟုတ် ရွှေဖြင့်ချထားသော ကိရိယာသံမဏိဖြစ်သည်။ အထက်ပါ အပိုင်းသုံးပိုင်းကို probe တစ်ခုအဖြစ် စုစည်းထားသည်။ ထို့အပြင်၊ ဂဟေဆက်ခြင်းဖြင့် ချိတ်ဆက်နိုင်သော အပြင်ဘက်အဖုံးတစ်ခုရှိသည်။
PCB စမ်းသပ်ကိရိယာ အမျိုးအစား
၁။ ICT စုံစမ်းစစ်ဆေးမှု
အသုံးများတဲ့ အကွာအဝေးက ၁.၂၇ မီလီမီတာ၊ ၁.၉၁ မီလီမီတာ၊ ၂.၅၄ မီလီမီတာ ဖြစ်ပါတယ်။ အသုံးများတဲ့ စီးရီးတွေကတော့ ၁၀၀ စီးရီး၊ ၇၅ စီးရီး နဲ့ ၅၀ စီးရီး တို့ပဲ ဖြစ်ပါတယ်။ အွန်လိုင်း ဆားကစ် စမ်းသပ်ခြင်းနဲ့ လုပ်ဆောင်ချက် စမ်းသပ်ခြင်းအတွက် အဓိက အသုံးပြုကြပါတယ်။ ICT စမ်းသပ်ခြင်း နဲ့ FCT စမ်းသပ်ခြင်းတွေကို ဗလာ PCB ဘုတ်တွေကို စမ်းသပ်ဖို့အတွက် ပိုပြီး မကြာခဏ အသုံးပြုကြပါတယ်။
၂။ နှစ်ထပ် အဆုံး စမ်းသပ်ကိရိယာ
၎င်းကို BGA စမ်းသပ်ရန်အတွက် အသုံးပြုသည်။ ၎င်းသည် အတော်လေး တင်းကျပ်ပြီး လက်ရာကောင်းမွန်ရန် လိုအပ်သည်။ ယေဘုယျအားဖြင့် မိုဘိုင်းဖုန်း IC ချစ်ပ်များ၊ လက်တော့ပ် IC ချစ်ပ်များ၊ တက်ဘလက်ကွန်ပျူတာများနှင့် ဆက်သွယ်ရေး IC ချစ်ပ်များကို စမ်းသပ်သည်။ အပ်ကိုယ်ထည်အချင်းသည် 0.25MM မှ 0.58MM အကြားရှိသည်။
၃။ စမ်းသပ်ကိရိယာကို ပြောင်းပါ
တစ်ခုတည်းသော switch probe တွင် ဆားကစ်၏ ပုံမှန်ဖွင့်ထားသော လုပ်ဆောင်ချက်နှင့် ပုံမှန်ပိတ်ထားသော လုပ်ဆောင်ချက်ကို ထိန်းချုပ်ရန်အတွက် လျှပ်စီးကြောင်း ဆားကစ်နှစ်ခု ပါရှိသည်။
၄။ မြင့်မားသောကြိမ်နှုန်းစမ်းသပ်ကိရိယာ
၎င်းကို shielding ring ဖြင့် မြင့်မားသောကြိမ်နှုန်း signal များကိုစမ်းသပ်ရန်အသုံးပြုပြီး shielding ring မပါဘဲ 10GHz နှင့် 500MHz အတွင်းစမ်းသပ်နိုင်သည်။
၅။ ရိုတာရီ စမ်းသပ်ကိရိယာ
၎င်း၏ ထိုးဖောက်နိုင်စွမ်းသည် မူလကတည်းက အားကောင်းသောကြောင့် elasticity သည် ယေဘုယျအားဖြင့် မြင့်မားခြင်းမရှိပဲ OSP မှ လုပ်ဆောင်ထားသော PCBA စမ်းသပ်မှုအတွက် ယေဘုယျအားဖြင့် အသုံးပြုသည်။
၆။ မြင့်မားသော လက်ရှိစမ်းသပ်ကိရိယာ
စမ်းသပ်ကိရိယာ၏ အချင်းသည် 2.98 မီလီမီတာမှ 5.0 မီလီမီတာအကြားရှိပြီး အမြင့်ဆုံးစမ်းသပ်လျှပ်စီးကြောင်းသည် 50 A အထိရောက်ရှိနိုင်သည်။
၇။ ဘက်ထရီ ထိတွေ့မှု စမ်းသပ်ကိရိယာ
၎င်းကို ယေဘုယျအားဖြင့် ထိတွေ့မှုအကျိုးသက်ရောက်မှုကို အကောင်းဆုံးဖြစ်စေရန်၊ ကောင်းမွန်သောတည်ငြိမ်မှုနှင့် ကြာရှည်ခံမှုတို့ဖြင့် အသုံးပြုသည်။ ၎င်းကို မိုဘိုင်းဖုန်းဘက်ထရီ၏ ထိတွေ့မှုအပိုင်း၊ SIM data card slot နှင့် အသုံးများသော charger interface ၏ လျှပ်ကူးပစ္စည်းအပိုင်းတို့တွင် လျှပ်စစ်စီးကူးရန်အတွက် အသုံးပြုသည်။
ပို့စ်တင်ချိန်: ၂၀၂၂ ခုနှစ်၊ ဒီဇင်ဘာလ ၁၃ ရက်
