PCB probe သည် အရေးကြီးသော အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းတစ်ခုဖြစ်ပြီး အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများ ချိတ်ဆက်လုပ်ဆောင်ခြင်းနှင့် လုပ်ဆောင်ခြင်းအတွက် လျှပ်စစ်ဓာတ်အား စမ်းသပ်ခြင်းအတွက် အဆက်အသွယ် ကြားခံဖြစ်သည်။PCB probe သည် PCBA ၏ data transmission နှင့် conductive contact ကို စမ်းသပ်ရန်အတွက် တွင်ကျယ်စွာ အသုံးပြုပါသည်။probe ၏ conductive transmission function ၏ဒေတာကို ထုတ်ကုန်သည် ပုံမှန်အဆက်အသွယ်ရှိမရှိနှင့် လုပ်ဆောင်ချက်ဒေတာသည် ပုံမှန်ဟုတ်မဟုတ် ဆုံးဖြတ်ရန် အသုံးပြုနိုင်သည်။
ယေဘူယျအားဖြင့် PCB ၏ probe တွင် အပိုင်းသုံးပိုင်းပါဝင်ပြီး အဓိကအားဖြင့် ကြေးနီသတ္တုစပ်ဖြင့်ပြုလုပ်ထားပြီး ရွှေဖြင့်ပြုလုပ်ထားသော အပ်ပြွန်ကို အဓိကအားဖြင့် အပိုင်းသုံးပိုင်းပါဝင်သည်။ဒုတိယတစ်ခုကတော့ စပရိန်ဖြစ်ပြီး အဓိကအားဖြင့် စန္ဒယားသံမဏိကြိုးနဲ့ စပရိန်သံမဏိတွေကို ရွှေနဲ့ချထားပါတယ်။တတိယမှာ အပ်၊ အဓိကအားဖြင့် tool steel (SK) nickel plating သို့မဟုတ် gold plating ဖြစ်သည်။အထက်ဖော်ပြပါ အပိုင်းသုံးပိုင်းကို စုံစမ်းစစ်ဆေးမှုတစ်ခုအဖြစ် စုစည်းထားသည်။ထို့အပြင်၊ ဂဟေဆော်ခြင်းဖြင့်ချိတ်ဆက်နိုင်သည့်အပြင်ဘက်လက်စွပ်တစ်ခုရှိသည်။
PCB စုံစမ်းစစ်ဆေးမှု အမျိုးအစား
1. အိုင်စီတီစုံစမ်းစစ်ဆေးခြင်း။
အသုံးများသောအကွာအဝေးမှာ 1.27mm၊ 1.91MM၊ 2.54mm ဖြစ်သည်။အသုံးများသောစီးရီးများမှာ 100 စီးရီး၊ 75 စီးရီးနှင့် 50 စီးရီးများဖြစ်သည်။၎င်းတို့ကို အွန်လိုင်း circuit စမ်းသပ်ခြင်းနှင့် လုပ်ငန်းဆိုင်ရာ စမ်းသပ်ခြင်းအတွက် အဓိကအားဖြင့် အသုံးပြုကြသည်။အချည်းနှီးသော PCB ဘုတ်များကို စမ်းသပ်ရန်အတွက် ICT စမ်းသပ်ခြင်းနှင့် FCT စမ်းသပ်ခြင်းကို ပို၍မကြာခဏအသုံးပြုသည်။
2. နှစ်ချက်အဆုံးသတ် စုံစမ်းခြင်း။
၎င်းကို BGA စမ်းသပ်ရန်အတွက် အသုံးပြုသည်။၎င်းသည်အတော်လေးတင်းကျပ်ပြီးမြင့်မားသောလက်ရာလိုအပ်သည်။ယေဘုယျအားဖြင့်၊ မိုဘိုင်းလ်ဖုန်း IC ချစ်ပ်များ၊ လက်ပ်တော့ IC ချစ်ပ်များ၊ တက်ဘလက်ကွန်ပျူတာများနှင့် ဆက်သွယ်ရေး IC ချစ်ပ်များကို စမ်းသပ်ကြသည်။အပ်ကိုယ်ထည်အချင်းသည် 0.25MM နှင့် 0.58MM ကြားဖြစ်သည်။
3. လှည့်ပတ်မှု
switch probe တစ်ခုတွင် circuit ၏ ပုံမှန်အဖွင့်နှင့် ပုံမှန်အပိတ် function ကို ထိန်းချုပ်ရန် circuit နှစ်ခုရှိသည်။
4. ကြိမ်နှုန်းမြင့် စုံစမ်းခြင်း။
ကြိမ်နှုန်းမြင့်အချက်ပြမှုများကို စမ်းသပ်ရန် အသုံးပြုထားပြီး၊ အကာအရံလက်စွပ်ဖြင့် ၎င်းကို အကာအရံမပါဘဲ 10GHz နှင့် 500MHz အတွင်း စမ်းသပ်နိုင်သည်။
5. Rotary probe
၎င်း၏ စိမ့်ဝင်နိုင်စွမ်းသည် မူလအတိုင်း အားကောင်းသောကြောင့်၊ ယေဘုယျအားဖြင့် OSP မှ လုပ်ဆောင်ခဲ့သော PCBA စမ်းသပ်ခြင်းအတွက် ၎င်းကို ယေဘုယျအားဖြင့် အသုံးပြုပါသည်။
6. High current probe
probe အချင်းသည် 2.98 mm နှင့် 5.0 mm ကြားရှိပြီး အမြင့်ဆုံး test current သည် 50 A သို့ ရောက်ရှိနိုင်သည်။
7. ဘက်ထရီအဆက်အသွယ်စုံစမ်းစစ်ဆေး
ကောင်းမွန်သောတည်ငြိမ်မှုနှင့် တာရှည်ဝန်ဆောင်မှုသက်တမ်းနှင့်အတူ အဆက်အသွယ်အကျိုးသက်ရောက်မှုကို ပိုကောင်းအောင်ပြုလုပ်ရန် ယေဘုယျအားဖြင့် ၎င်းကိုအသုံးပြုသည်။မိုဘိုင်းလ်ဖုန်းဘက်ထရီ၏ အဆက်အသွယ်အပိုင်း၊ SIM ဒေတာကတ်အပေါက်နှင့် အသုံးများသော အားသွင်းမျက်နှာပြင်၏ လျှပ်ကူးနိုင်သော အစိတ်အပိုင်းတွင် လျှပ်စစ်ဓာတ်အား သယ်ဆောင်ရန်အတွက် အသုံးပြုသည်။
စာတိုက်အချိန်- ဒီဇင်ဘာ-၁၃-၂၀၂၂
