ဆီမီးကွန်ဒတ်တာ စစ်ဆေးမှု ကိရိယာများကို အသုံးပြုခြင်းသည် တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးတာ ထုတ်လုပ်မှု လုပ်ငန်းစဉ် တစ်ခုလုံးကို လုပ်ဆောင်ပြီး တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးတာ လုပ်ငန်း ကွင်းဆက်တွင် ကုန်ကျစရိတ် ထိန်းချုပ်မှုနှင့် အရည်အသွေး အာမခံချက်တွင် အဓိက အခန်းကဏ္ဍမှ ပါဝင်ပါသည်။
တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်း ချစ်ပ်များသည် ဒီဇိုင်း၊ ထုတ်လုပ်မှုနှင့် တံဆိပ်ခတ်ခြင်း စမ်းသပ်မှု အဆင့်သုံးဆင့်ကို ကြုံတွေ့ခဲ့ရသည်။အီလက်ထရွန်းနစ်စနစ် ချို့ယွင်းချက်ရှာဖွေခြင်းတွင် "ဆယ်ဆစည်းမျဉ်း" အရ ချစ်ပ်ထုတ်လုပ်သူများသည် ချို့ယွင်းနေသော ချစ်ပ်များကို အချိန်မီရှာဖွေရန် ပျက်ကွက်ပါက ချို့ယွင်းနေသော ချစ်ပ်များကို စစ်ဆေးဖြေရှင်းရန် နောက်အဆင့်တွင် ကုန်ကျစရိတ် ဆယ်ဆကို သုံးစွဲရန် လိုအပ်ပါသည်။
ထို့အပြင်၊ အချိန်နှင့်တပြေးညီ ထိရောက်သောစမ်းသပ်မှုမှတစ်ဆင့် ချစ်ပ်ထုတ်လုပ်သူများသည် မတူညီသော စွမ်းဆောင်ရည်အဆင့်များရှိသော ဖန်သားပြင်ချစ်ပ်များ သို့မဟုတ် စက်ပစ္စည်းများကို ကျိုးကြောင်းဆီလျော်စွာ လုပ်ဆောင်နိုင်သည်။
Semiconductor စမ်းသပ်မှု
တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းစမ်းသပ်မှု ပရောဖက်များကို ချစ်ပ်ဒီဇိုင်းအတည်ပြုခြင်း၊ wafer စမ်းသပ်ခြင်းနှင့် ဆီမီးကွန်ဒတ်တာများ၏ ကုန်ချောစမ်းသပ်ခြင်းများတွင် အဓိကအားဖြင့် အသုံးပြုကြပြီး ချစ်ပ်ထုတ်လုပ်မှုလုပ်ငန်းစဉ်တစ်ခုလုံးတွင် အဓိကအစိတ်အပိုင်းများဖြစ်သည်။
စမ်းသပ်မှုအား ယေဘုယျအားဖြင့် အပ်ခေါင်း၊ အပ်အမြီး၊ စပရိန်နှင့် အပြင်ပြွန်၏ အခြေခံ အစိတ်အပိုင်း လေးခုဖြင့် ဖွဲ့စည်းထားကာ တိကျသော တူရိယာများဖြင့် ဖိထားပြီး၊တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်း ထုတ်ကုန်များ၏ အရွယ်အစားသည် အလွန်သေးငယ်သောကြောင့်၊ probes များ၏ အရွယ်အစား လိုအပ်ချက်များသည် ပိုမိုတင်းကျပ်ပြီး မိုက်ခရိုနအဆင့်သို့ ရောက်ရှိသွားပါသည်။
ထုတ်ကုန်၏ လျှပ်ကူးမှု၊ လက်ရှိ၊ လုပ်ဆောင်မှု၊ အသက်အရွယ်ကြီးမှုနှင့် အခြားစွမ်းဆောင်ရည် ညွှန်ကိန်းများကို သိရှိရန် အချက်ပြထုတ်လွှင့်မှုကို သိရှိရန် wafer/chip pin သို့မဟုတ် ဂဟေဘောလုံးနှင့် စမ်းသပ်စက်ကြားတွင် တိကျသောချိတ်ဆက်မှုအတွက် probe ကို အသုံးပြုသည်။
ထုတ်လုပ်ထားသော probe ၏ဖွဲ့စည်းပုံသည် ကျိုးကြောင်းဆီလျော်မှုရှိမရှိ၊ အရွယ်အစားအမှားအယွင်းသည် ကျိုးကြောင်းဆီလျော်မှုရှိမရှိ၊ အပ်ထိပ်ဖျားသည် ကွဲထွက်သွားခြင်းရှိမရှိ၊ peripheral insulation layer ပြီးသွားခြင်းရှိမရှိ၊ အစရှိသည်တို့သည် probe ၏ test accuracy ကို တိုက်ရိုက်အကျိုးသက်ရောက်မည်ဖြစ်ပြီး၊ ထို့ကြောင့် ၎င်းကို အကျိုးသက်ရောက်စေသည်။ ဆီမီးကွန်ဒတ်တာ ချစ်ပ်ထုတ်ကုန်များ၏ စမ်းသပ်မှုနှင့် အတည်ပြုခြင်းအကျိုးသက်ရောက်မှု။
ထို့ကြောင့် Chip ထုတ်လုပ်မှု ကုန်ကျစရိတ် မြင့်တက်လာသည်နှင့်အမျှ တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်း စမ်းသပ်ခြင်း၏ အရေးပါမှုမှာ ပိုမိုထင်ရှားလာကာ စမ်းသပ်မှုဆိုင်ရာ လိုအပ်ချက်များလည်း တိုးလာပါသည်။
စုံစမ်းစစ်ဆေးရေး လိုအပ်ချက်သည် တစ်နှစ်ထက်တစ်နှစ် တိုးလာနေသည်။
တရုတ်နိုင်ငံတွင် စမ်းသပ်စစ်ဆေးမှုသည် ကျယ်ပြန့်သော အသုံးချနယ်ပယ်များနှင့် ကွဲပြားသော ထုတ်ကုန်အမျိုးအစားများ၏ လက္ခဏာများရှိသည်။၎င်းသည် အီလက်ထရွန်းနစ် အစိတ်အပိုင်းများ၊ မိုက်ခရိုအီလက်ထရွန်းနစ်များ၊ ပေါင်းစပ်ဆားကစ်များနှင့် အခြားစက်မှုလုပ်ငန်းများကို ထောက်လှမ်းရာတွင် မရှိမဖြစ် အစိတ်အပိုင်းတစ်ခုဖြစ်သည်။မြစ်အောက်ပိုင်းဒေသများ လျင်မြန်စွာ ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်မှုကြောင့် စုံစမ်းစစ်ဆေးရေး လုပ်ငန်းသည် လျင်မြန်စွာ ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်မှု အဆင့်တွင် ရှိနေပါသည်။
ကိန်းဂဏန်းအချက်အလက်များအရ တရုတ်နိုင်ငံတွင် စုံစမ်းစစ်ဆေးရန် ၀ယ်လိုအားသည် 2020 တွင် 481 သန်းအထိရှိလာမည်ဖြစ်သည်။ 2016 တွင်၊ China's probe market ၏ ရောင်းအားပမာဏမှာ 296 million pieces ဖြစ်ပြီး 2020 နှင့် 2019 တွင် 14.93% တိုးလာပါသည်။
2016 ခုနှစ်တွင် တရုတ်၏ စုံစမ်းစစ်ဆေးရေးဈေးကွက်၏ ရောင်းအားပမာဏမှာ ယွမ် ၁.၆၅၆ ဘီလီယံရှိပြီး 2020 ခုနှစ်တွင် ယွမ် 2.960 ဘီလီယံ ရှိပြီး 2019 ခုနှစ်နှင့် နှိုင်းယှဉ်ပါက 17.15% တိုးလာပါသည်။
မတူညီသော application များအလိုက် sub probe အမျိုးအစားများစွာရှိသည်။အသုံးအများဆုံး probe အမျိုးအစားများမှာ elastic probe၊ cantilever probe နှင့် vertical probe တို့ဖြစ်သည်။
2020 ခုနှစ်တွင် တရုတ်နိုင်ငံ၏ Probe ထုတ်ကုန်တင်သွင်းမှု၏ ဖွဲ့စည်းပုံအပေါ် လေ့လာသုံးသပ်ခြင်း။
လက်ရှိတွင်၊ တစ်ကမ္ဘာလုံးဆိုင်ရာ တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းစမ်းသပ်စစ်ဆေးသည့်ကိရိယာများသည် အဓိကအားဖြင့် အမေရိကန်နှင့် ဂျပန်စီးပွားရေးလုပ်ငန်းများဖြစ်ပြီး တန်ဖိုးကြီးဈေးကွက်ကို အဆိုပါအဓိကဒေသနှစ်ခုမှ လက်ဝါးကြီးအုပ်လုနီးပါးဖြစ်နေသည်။
2020 ခုနှစ်တွင်၊ တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းစမ်းသပ်မှုစီးရီးထုတ်ကုန်များ၏ကမ္ဘာလုံးဆိုင်ရာရောင်းချမှုအတိုင်းအတာသည်အမေရိကန်ဒေါ်လာ 1.251 ဘီလီယံအထိရောက်ရှိခဲ့ပြီး၊ ၎င်းသည်ပြည်တွင်းစုံစမ်းစစ်ဆေးရေး၏ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်မှုနေရာသည်ကြီးမားပြီးပြည်တွင်းစုံစမ်းစစ်ဆေးမှုများတိုးပွားလာသည်ကိုပြသသည်။
Probes များကို မတူညီသော application များအလိုက် အမျိုးအစားများစွာ ခွဲခြားနိုင်သည်။အသုံးအများဆုံး probe အမျိုးအစားများမှာ elastic probe၊ cantilever probe နှင့် vertical probe တို့ဖြစ်သည်။
Xinfucheng စမ်းသပ်မှု
Xinfucheng သည် လွတ်လပ်သော သုတေသနနှင့် အရည်အသွေးမြင့် စမ်းသပ်ကိရိယာများ ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်ရေး၊ အဆင့်မြင့် ပစ္စည်းဖွဲ့စည်းပုံ၊ ပိန်လှီသော အပေါ်ယံ ကုသမှု နှင့် အရည်အသွေးမြင့် တပ်ဆင်ခြင်း လုပ်ငန်းစဉ်တို့ကို တွန်းအားပေးလျက် ပြည်တွင်းစုံစမ်းရေးစက်မှုလုပ်ငန်း ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်စေရန် အမြဲတစေ ကတိပြုပါသည်။
အနိမ့်ဆုံးအကွာအဝေးသည် 0.20P သို့ရောက်ရှိနိုင်သည်။probe ထိပ်တန်းဒီဇိုင်းများနှင့် probe တည်ဆောက်ပုံဒီဇိုင်းများသည် အမျိုးမျိုးသောထုပ်ပိုးမှုနှင့် စမ်းသပ်မှုလိုအပ်ချက်များကို ဖြည့်ဆည်းပေးနိုင်သည်။
ပေါင်းစပ် circuit tester ၏ အဓိက အစိတ်အပိုင်းတစ်ခုအနေဖြင့်၊ စမ်းသပ်မှု အစုံလိုက်သည် ဆယ်ဂဏန်း၊ ရာနှင့်ချီ သို့မဟုတ် ထောင်ပေါင်းများစွာသော စမ်းသပ်မှု ပရောဖက်များ လိုအပ်သည်။ထို့ကြောင့်၊ Xinfucheng သည် တည်ဆောက်ပုံဒီဇိုင်း၊ ပစ္စည်းဖွဲ့စည်းမှု၊ ထုတ်လုပ်မှုနှင့် probes ထုတ်လုပ်မှုတို့တွင် သုတေသနများစွာကို ရင်းနှီးမြှုပ်နှံခဲ့သည်။
ကျွန်ုပ်တို့သည် စက်မှုလုပ်ငန်းမှ ထိပ်တန်း R&D အဖွဲ့ကို စုစည်းထားပြီး၊ probes များ၏ ဒီဇိုင်းနှင့် R&D ကို အာရုံစိုက်ပြီး probes များ၏ စမ်းသပ်တိကျမှုကို နေ့ရောညပါ မြှင့်တင်ရန် နည်းလမ်းများကို ရှာဖွေနေပါသည်။လက်ရှိတွင် အဆိုပါထုတ်ကုန်များကို ပြည်တွင်းပြည်ပရှိ အကြီးစားနှင့် အလတ်စားစီးပွားရေးလုပ်ငန်းများတွင် အောင်မြင်စွာ အသုံးချနိုင်ခဲ့ပြီး တရုတ်နိုင်ငံ၏ တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးစက်လုပ်ငန်းကို အထောက်အကူဖြစ်စေခဲ့သည်။
စာတိုက်အချိန်- အောက်တိုဘာ ၃၁-၂၀၂၂
