တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းစမ်းသပ်ကိရိယာများကို အသုံးပြုခြင်းသည် တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းထုတ်လုပ်မှုလုပ်ငန်းစဉ်တစ်ခုလုံးတွင် ပါဝင်ပြီး တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းလုပ်ငန်းကွင်းဆက်တွင် ကုန်ကျစရိတ်ထိန်းချုပ်မှုနှင့် အရည်အသွေးအာမခံချက်တွင် အဓိကအခန်းကဏ္ဍမှ ပါဝင်ပါသည်။
တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းချစ်ပ်များသည် ဒီဇိုင်း၊ ထုတ်လုပ်မှုနှင့် တံဆိပ်ခတ်စမ်းသပ်မှုဟူ၍ အဆင့်သုံးဆင့်ကို ဖြတ်သန်းခဲ့ရသည်။ အီလက်ထရွန်းနစ်စနစ် ချို့ယွင်းချက်ရှာဖွေခြင်းဆိုင်ရာ "ဆယ်ကြိမ်စည်းမျဉ်း" အရ ချစ်ပ်ထုတ်လုပ်သူများသည် ချို့ယွင်းနေသော ချစ်ပ်များကို အချိန်မီမတွေ့ရှိပါက နောက်တစ်ဆင့်တွင် ချို့ယွင်းနေသော ချစ်ပ်များကို စစ်ဆေးဖြေရှင်းရန် ကုန်ကျစရိတ်၏ ဆယ်ဆကို သုံးစွဲရန် လိုအပ်ပါသည်။
ထို့အပြင်၊ အချိန်နှင့်တပြေးညီ ထိရောက်သော စမ်းသပ်မှုမှတစ်ဆင့် ချစ်ပ်ထုတ်လုပ်သူများသည် မတူညီသော စွမ်းဆောင်ရည်အဆင့်များရှိသော ချစ်ပ်များ သို့မဟုတ် စက်ပစ္စည်းများကိုလည်း ကျိုးကြောင်းဆီလျော်စွာ စစ်ဆေးနိုင်သည်။
တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်း စမ်းသပ်ကိရိယာ
Semiconductor test probes များကို အဓိကအားဖြင့် semiconductor များ၏ ချစ်ပ်ဒီဇိုင်းအတည်ပြုခြင်း၊ wafer စမ်းသပ်ခြင်းနှင့် အပြီးသတ်ထုတ်ကုန်စမ်းသပ်ခြင်းတွင် အသုံးပြုပြီး ချစ်ပ်ထုတ်လုပ်မှုလုပ်ငန်းစဉ်တစ်လျှောက်လုံး၏ အဓိကအစိတ်အပိုင်းများဖြစ်သည်။
စမ်းသပ် probe ကို ယေဘုယျအားဖြင့် အပ်ခေါင်း၊ အပ်အမြီး၊ စပရိန်နှင့် အပြင်ပြွန်ဟူသော အခြေခံအစိတ်အပိုင်းလေးခုဖြင့် ဖွဲ့စည်းထားပြီး တိကျသောကိရိယာများဖြင့် ရစ်ဗ်ပြီး ကြိုတင်ဖိထားသည်။ တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းထုတ်ကုန်များ၏ အရွယ်အစားသည် အလွန်သေးငယ်သောကြောင့် probe များ၏ အရွယ်အစားလိုအပ်ချက်များသည် ပိုမိုတင်းကျပ်ပြီး မိုက်ခရွန်အဆင့်သို့ ရောက်ရှိသည်။
ထုတ်ကုန်၏ လျှပ်ကူးနိုင်စွမ်း၊ လျှပ်စီးကြောင်း၊ လုပ်ဆောင်ချက်၊ အိုမင်းရင့်ရော်မှုနှင့် အခြားစွမ်းဆောင်ရည်ညွှန်းကိန်းများကို ထောက်လှမ်းရန် အချက်ပြထုတ်လွှင့်မှုကို သိရှိရန်အတွက် wafer/chip pin သို့မဟုတ် solder ball နှင့် စမ်းသပ်စက်အကြား တိကျသောချိတ်ဆက်မှုအတွက် probe ကို အသုံးပြုသည်။
ထုတ်လုပ်ထားသော probe ၏ဖွဲ့စည်းပုံသည် သင့်တင့်မျှတမှုရှိမရှိ၊ အရွယ်အစားအမှားအယွင်းသည် သင့်တင့်မျှတမှုရှိမရှိ၊ အပ်ထိပ်ဖျား လမ်းကြောင်းလွဲသွားခြင်းရှိမရှိ၊ peripheral insulation layer ပြီးမြောက်ခြင်းရှိမရှိ စသည်တို့သည် probe ၏ စမ်းသပ်မှုတိကျမှုကို တိုက်ရိုက်အကျိုးသက်ရောက်စေပြီး semiconductor chip ထုတ်ကုန်များ၏ စမ်းသပ်မှုနှင့် အတည်ပြုခြင်းအကျိုးသက်ရောက်မှုကို သက်ရောက်မှုရှိစေပါသည်။
ထို့ကြောင့် ချစ်ပ်ထုတ်လုပ်မှုကုန်ကျစရိတ် မြင့်တက်လာခြင်းနှင့်အတူ တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းစမ်းသပ်မှု၏ အရေးပါမှုသည် ပိုမိုထင်ရှားလာပြီး စမ်းသပ်စစ်ဆေးသည့် probe များအတွက် ဝယ်လိုအားလည်း မြင့်တက်လာပါသည်။
စမ်းသပ်ကိရိယာများအတွက် လိုအပ်ချက်သည် နှစ်စဉ်တိုးပွားလာနေသည်
တရုတ်နိုင်ငံတွင် စမ်းသပ် probe သည် ကျယ်ပြန့်သော အသုံးချမှုနယ်ပယ်များနှင့် မတူညီသော ထုတ်ကုန်အမျိုးအစားများ၏ ဝိသေသလက္ခဏာများရှိသည်။ ၎င်းသည် အီလက်ထရွန်းနစ် အစိတ်အပိုင်းများ၊ မိုက်ခရိုအီလက်ထရွန်းနစ်များ၊ ပေါင်းစပ်ဆားကစ်များနှင့် အခြားစက်မှုလုပ်ငန်းများကို ထောက်လှမ်းရာတွင် မရှိမဖြစ် အစိတ်အပိုင်းတစ်ခုဖြစ်သည်။ အောက်ပိုင်းဒေသများ၏ အလျင်အမြန် ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်မှုကြောင့် probe လုပ်ငန်းသည် အလျင်အမြန် ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်နေသော အဆင့်တွင် ရှိနေသည်။
တရုတ်နိုင်ငံတွင် ၂၀၂၀ ခုနှစ်တွင် စမ်းသပ်ကိရိယာများအတွက် ၀ယ်လိုအားမှာ ၄၈၁ သန်းအထိ ရောက်ရှိမည်ဟု အချက်အလက်များက ပြသနေသည်။ ၂၀၁၆ ခုနှစ်တွင် တရုတ်နိုင်ငံ၏ စမ်းသပ်ကိရိယာဈေးကွက်၏ ရောင်းအားပမာဏမှာ ၂၉၆ သန်းရှိခဲ့ပြီး ၂၀၂၀ နှင့် ၂၀၁၉ ခုနှစ်တွင် နှစ်စဉ် ၁၄.၉၃% တိုးတက်ခဲ့သည်။
၂၀၁၆ ခုနှစ်တွင် တရုတ်နိုင်ငံ၏ စုံစမ်းစစ်ဆေးရေးဈေးကွက်၏ ရောင်းအားပမာဏမှာ ယွမ် ၁.၆၅၆ ဘီလီယံရှိပြီး ၂၀၂၀ ခုနှစ်တွင် ယွမ် ၂.၉၆၀ ဘီလီယံရှိခဲ့ပြီး ၂၀၁၉ ခုနှစ်နှင့် နှိုင်းယှဉ်ပါက ၁၇.၁၅% တိုးလာခဲ့သည်။
အသုံးချမှုအမျိုးမျိုးအလိုက် sub probe အမျိုးအစားများစွာရှိပါသည်။ အသုံးအများဆုံး probe အမျိုးအစားများမှာ elastic probe၊ cantilever probe နှင့် vertical probe တို့ဖြစ်သည်။
၂၀၂၀ ခုနှစ်တွင် တရုတ်နိုင်ငံ၏ စုံစမ်းစစ်ဆေးရေး ထုတ်ကုန်တင်သွင်းမှုဖွဲ့စည်းပုံအပေါ် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်း
လက်ရှိတွင် ကမ္ဘာလုံးဆိုင်ရာ တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်း စမ်းသပ်စစ်ဆေးရေးကိရိယာများသည် အဓိကအားဖြင့် အမေရိကန်နှင့် ဂျပန်လုပ်ငန်းများဖြစ်ပြီး အဆင့်မြင့်ဈေးကွက်ကို ဤအဓိကဒေသနှစ်ခုက လက်ဝါးကြီးအုပ်ထားသည်။
၂၀၂၀ ခုနှစ်တွင် semiconductor test probe series ထုတ်ကုန်များ၏ ကမ္ဘာလုံးဆိုင်ရာ ရောင်းအားပမာဏသည် အမေရိကန်ဒေါ်လာ ၁.၂၅၁ ဘီလီယံအထိ ရောက်ရှိခဲ့ပြီး ပြည်တွင်း probe များ၏ ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်ရေး နယ်ပယ်သည် ကြီးမားပြီး ပြည်တွင်း probe များ၏ တိုးတက်မှုသည် အရေးတကြီးဖြစ်ကြောင်း ပြသနေပါသည်။
စမ်းချောင်းများကို အသုံးချမှုအမျိုးမျိုးပေါ် မူတည်၍ အမျိုးအစားများစွာ ခွဲခြားနိုင်သည်။ အသုံးအများဆုံး စမ်းချောင်းအမျိုးအစားများတွင် elastic probe၊ cantilever probe နှင့် vertical probe တို့ ပါဝင်သည်။
ရှင်ဖူချန် စမ်းသပ်စစ်ဆေးရေး
Xinfucheng သည် ပြည်တွင်း probe လုပ်ငန်း ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်ရေးအတွက် အမြဲတမ်း ကတိကဝတ်ပြုထားပြီး အရည်အသွေးမြင့် test probe များ၏ လွတ်လပ်သော သုတေသနနှင့် ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်ရေး၊ အဆင့်မြင့် ပစ္စည်းဖွဲ့စည်းပုံ၊ lean coating ကုသမှုနှင့် အရည်အသွေးမြင့် တပ်ဆင်မှု လုပ်ငန်းစဉ်ကို လက်ခံကျင့်သုံးခြင်းတို့ကို အလေးထား ဆောင်ရွက်ပါသည်။
အနည်းဆုံး အကွာအဝေးသည် 0.20P အထိ ရောက်ရှိနိုင်သည်။ အမျိုးမျိုးသော probe top ဒီဇိုင်းများနှင့် probe structure ဒီဇိုင်းများသည် အမျိုးမျိုးသော packaging နှင့် testing လိုအပ်ချက်များကို ဖြည့်ဆည်းပေးနိုင်ပါသည်။
ပေါင်းစပ်ဆားကစ်စမ်းသပ်ကိရိယာ၏ အဓိကအစိတ်အပိုင်းတစ်ခုအနေဖြင့် စမ်းသပ်ကိရိယာတစ်စုံသည် ဆယ်ဂဏန်း၊ ရာဂဏန်း သို့မဟုတ် ထောင်ပေါင်းများစွာသော စမ်းသပ်စမ်းသပ်ကိရိယာများ လိုအပ်ပါသည်။ ထို့ကြောင့် Xinfucheng သည် စမ်းသပ်ကိရိယာများ၏ဖွဲ့စည်းပုံဒီဇိုင်း၊ ပစ္စည်းဖွဲ့စည်းမှု၊ ထုတ်လုပ်မှုနှင့် ထုတ်လုပ်ခြင်းတို့တွင် သုတေသနများစွာ ရင်းနှီးမြှုပ်နှံထားသည်။
ကျွန်ုပ်တို့သည် လုပ်ငန်းနယ်ပယ်မှ ထိပ်တန်း R&D အဖွဲ့ကို စုစည်းထားပြီး probe များ၏ ဒီဇိုင်းနှင့် R&D ကို အဓိကထားကာ probe များ၏ စမ်းသပ်မှုတိကျမှုကို နေ့ရောညပါ မြှင့်တင်ရန် နည်းလမ်းများကို ရှာဖွေနေပါသည်။ လက်ရှိတွင် ထုတ်ကုန်များကို ပြည်တွင်းပြည်ပရှိ အကြီးစားနှင့် အလတ်စား လုပ်ငန်းများစွာတွင် အောင်မြင်စွာ အသုံးချနိုင်ခဲ့ပြီး တရုတ်နိုင်ငံ၏ semiconductor လုပ်ငန်းတွင် အထောက်အကူပြုနေပါသည်။
ပို့စ်တင်ချိန်: ၂၀၂၂ ခုနှစ်၊ အောက်တိုဘာလ ၃၁ ရက်
